(资料图片)
1、 《检查系统和检查方法》是清华大学、同方威视技术股份有限公司于2007年10月30日申请的专利，该专利的申请号为2007101765284，授权公告号为CN101424648B，授权公告日为2012年10月3日，发明人是张丽、陈志强、胡海峰、李元景、刘以农、孙尚民、张文宇、邢宇翔。
2、 《检查系统和检查方法》提供了一种检查系统，该系统包括：CT装置，该CT装置包括：滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连接在滑环上的探测装置；以及传送被检查物体的传送装置，其中所述探测装置包括N排探测器，并且相邻两排所述检测器之间具有预定的间隔，其中N为大于1的整数。采用该发明的检查系统，实现了CT装置的高速扫描成像，使CT装置和用于获得二维图像的扫描成像装置同时使用成为可能，从而弥补了互相之间的不足。
3、 2017年12月，《检查系统和检查方法》获得第十九届中国专利优秀奖。
4、 （概述图为《检查系统和检查方法》摘要附图）
